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求助nmos管栅极驱动芯片选型问题

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楼主
ID:874416 发表于 2023-8-18 17:47 来自手机 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
各位大佬,是这样的,之前栅极驱动使用了lm5060,电源输入是60V左右,但在实际测试中,输出连负载仪时,几十W的情况下直接让lm5060控制nmos关闭再开启后,栅极驱动芯片出现了响声,然后mos管会损坏,一直导通。
之后负载接功率电阻一百多W情况下,关闭再开启mos管,是没有问题的。但是负载接电机测试又不可以了。测试几次,栅极驱动芯片和mos管都出现过损坏情况。
不带负载情况下开关mos时,几十A电流,60V长时间通过,电路板正常。
求助各位大佬,什么型号可以在电路输出带负载情况下关断开启mos管不会损坏啊?
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沙发
ID:1088185 发表于 2023-8-18 21:23 | 只看该作者
上电路图吧
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板凳
ID:25903 发表于 2023-8-19 09:03 | 只看该作者
接感性负载时,输出mos管关断时,该漏极会有较大的反向电压(相对于阻性负载)。而大功率的MOS管,其米勒电容是比较大的(或者说Cgd)。此时这个高压会通过功率mos管的电容Cgd加载到驱动芯片上,进而损坏驱动芯片。
简单的处理是在驱动芯片的输出端加TVS来吸收就行了。假如你驱动芯片输出的电压是10V,那你就加11V或12V的TVS。
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地板
ID:491875 发表于 2023-8-19 17:45 | 只看该作者
UCC27511可以提供最大4A拉电流8A灌电流,很适合驱动MOS管或者IGBT.
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5#
ID:1089167 发表于 2023-8-21 09:49 | 只看该作者
首先,接电机的时候,负载属于感性的,Nmos管在开通和关断的时候,在MOS管的D端会出现一个很大的di/dt,这个是很危险的,相当于让MOS管瞬间承受一个很大的电流尖峰,然后这个di/dt会顺着米勒电容影响MOS管的关断,导致出现平台震荡现象,进而损坏MOS管甚至是驱动IC,根据楼主的描述,可知楼主的情况属于低压大电流,关断时候是非常难做的搞不好就会损坏MOS管,解决这类问题,一般需要多做测试,去检测MOS管关断时候平台震荡的波形,把波形调试好,就可以减少MOS损坏的情况,MOS选型的话可以考虑Cgs电容大点的在关断的时候可以有效降低di/dt
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6#
ID:123289 发表于 2023-8-21 10:25 | 只看该作者
上图更利于它人分析。图是最好的语言。
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7#
ID:879348 发表于 2023-8-23 15:49 | 只看该作者
应该是上升过程太慢了
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