在深入了解scan技术之前，我们先来比较下分别针对组合电路和时序电路的测试过程。很显然，在芯片制造出来后，我们只能通过其输入输出端口来对芯片进行各项检测。在如图A所示的组合电路中，假设F处有一短接电源地的固定0故障(stuck-at 0 fault) 。要检测到这样的物理缺陷，首先要在A端和B端给1的输入激励，这样在F处可以得到1值从而激活目标fault。而要将F处的值传递到输出端进行观测，C端就要有一个0的输入。这样我们就得到了一个能检测到目标fault的结构性测试向量：110(ABC). 在该组合电路没有故障(fault) 的情况下，我们应该可以在输出Z端观测到一个正确的1值。而在F处有stuck-at0 故障的情况下，我们在输出Z端就会观测到0值从而检测到该fault。
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