PCB板过孔不良切片图片芯片Xray SAT扫描图片 -

标题: PCB板过孔不良切片图片芯片Xray SAT扫描图片 [打印本页]

作者: zhshch.123@163. 时间: 2020-8-13 10:27
标题: PCB板过孔不良切片图片芯片Xray SAT扫描图片
浏览了一些帖子没怎么看到对芯片或者PCB的内部分享图片分享一下因为PCB内部过孔不良的失效图片。一般失效用到的有
超声波扫描检测：无损观察芯片内部是否存在分层，空洞
Xray检测：无损观察芯片内部打线芯片Die位置大小等
开封Decap：化学腐蚀等手段去除芯片表面塑封，观察芯片内部状况并与OK品进行比较
切片Crosssection：物理研磨手段，观察芯片内部截面，一般先进行1.取样 2.清洗 3.制样 4.研磨 5.抛光

对于像过孔电容电阻失效等不良，需要细心，因为失效样品有限，只有准确根据不良现象才能找到失效的根本原因，进而降低产品不良风险。