标题: 单片机芯片共地问题 [打印本页]

作者: fyj1369    时间: 2023-9-27 12:16
标题: 单片机芯片共地问题
各位佬,想请教一些问题,就是我现在要测量两个信号(还有几个),这两个电压是不共地的,我要用两个同型号的单片机测量(需要画在同一块板),因为是第一个测量正确后会给另外一个单片机输出一个高电平信号(我是打算io口之间高低电平为正确信号这样子),另外一个单片机才去测量第二个,我想着是测量两个不共地的电压,两个单片机需要不共地,我想着就是一个电压供电,两个单片机不共地,不共地加磁珠电容隔离这样子,而且这样子io口就需要隔离,所以不知道有啥办法单片机不共地还有io隔离的办法,望各位佬指点指点,谢谢。

作者: EdwardTsapiev    时间: 2023-9-27 15:20
有一次,我使用一个微控制器和多个外部 ADC 解决了类似的问题。
进出 ADC 的信号通过“数字隔离器”(有电容式、磁性式和光学式)。
每个 ADC 由单独的隔离式 DC/DC 转换器供电。
为了抑制干扰(ADC错误,防止单片机死机),可能需要将被测电压的每条GND线通过一个2kV-0.01uF的高压电容连接到单片机的GND线。

(抱歉我的语言 - 机器翻译并不完美)
作者: wulin    时间: 2023-9-27 16:52
被测信号用光耦隔离,单片机用一个,如有必要用两个单片机可以共地。
作者: cnfloatleaf    时间: 2023-9-27 17:05
这个思路应该可以,每个信号用一个ADC芯片,每个ADC单独电源,ADC与单片机的接口用光耦或者电磁隔离(记得型号是ADUMxxxx),用一个单片机即可。
作者: 量子工业    时间: 2023-9-27 17:40
是虚地,模数部分隔离,或者高低频隔离;
还是电隔离,方案差别很大,可优化下方案试试
作者: Hephaestus    时间: 2023-9-27 18:56
用光耦隔离,或者用ADI的磁隔离芯片。
作者: XLinliY.Zhang    时间: 2023-9-27 19:17
一个PC817就可以解决这个问题了
作者: tyun1990    时间: 2023-9-28 00:06
我之前用光耦隔离的,信号很稳定




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