求救:STM32F042K6T6高低温测试时死机 -

标题: 求救:STM32F042K6T6高低温测试时死机 [打印本页]

作者: callan 时间: 2017-6-22 18:00
标题: 求救:STM32F042K6T6高低温测试时死机
最近公司有个项目上面用的STM32F042K6T6做CAN通信。现在做高低温测试时总是死机，平时都是正常的，高温最高60度，低温最低-20度，死机不是发生在高温或者低温，而是发生在从60度恢复到0度或者从-20度恢复到0度。MCU已经使用了IWDG和WWDG，但是都起不到复位的作用，求救啊！

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参考原理图

作者: yzwzfyz 时间: 2017-6-22 22:43
多半是：
程序中有死待某个标记，用C写的程序常有此问题（因为按正常逻辑及状况，这个标记一定会出现，程序未考虑循特殊情况的出现）。
比如：某个硬件在异常状态下给不出标记时，程序又死等它出现。

我一般比较注意有死等某个标记地方，在死等的语句中插入时间限制（时间由中间程序控制，计时与死待无关），等不到标记，但时间到了就跳出。
如何找到死等的点呢？
给程序运行加追踪器：
比如：程序有10个步骤或任务或其它什么，用一个寄存器R_RUN，运行到任务1就让R_RUN=1，运行到任务N就让R_RUN=N。也就是说只要知道R_RUN的值就能知道程序运行到什么任务（地方）。
当看门狗复位动作时，运行一个输出R_RUN的程序（写一个显示程序或其它可以输出的方式）
这样你就知道，程序死在什么地方了。任务分得越细越易找到问题。

作者: qwert126 时间: 2017-6-23 09:25
不懂，完全看不懂

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