电容是千万不能去掉的，ADC检测需要给单片机内部的取样电容充电，去掉C8后测出来的数就更不准了。你是有低功耗需求吗，如果没有的话ADC可以一直开着

我也遇到过，单片机ADC检测时的IO输入阻抗不够，实在不行你用个放大器做下跟随，或者凑合用做个补偿也问题不大。

stm32XXX 这类MCU的ADC 的输入内阻比较小(最大50kΩ, 见下图), 影响了测量结果, 万用表电压档一般在10MΩ, 内阻很大, 所以对测量结果影响很小.

要么, 你的电路自身内阻不能大, NTC最小也10kΩ, 这里不合适.
要么, 你加一个运放跟随器(LMV358,LMV321),降低内阻.
要么, 你用软件修正.

你用什么ADC芯片不去查下输入阻抗吗？看上去像是STM32，采样率越高阻抗越小。

把电容去掉

727742898 发表于 2024-9-13 08:47
你看看我描述的，我没用ntc

看了你的描述。首先我抱歉没仔细看。
然后从硬件角度几个想法和你说下。
第一我公司也是做产品的，也有用到热敏电阻，但是一般情况下做这个电路VRFE必须（不说必须，尽可能）和单片机的VCC一致，因为部分垫片机有ADC-VREF标准电压输入引脚，如果没有那单片机内部会直接用它的VCC电平作为ADC标准电压，也就是如果我的单片机因为压降导致它的VCC是2.5V（vcc标准应该是5V），那它测你2.5V电压也会显示是5V（因为ADC底层逻辑就是所测电压等于VCC它就是5V)，这里你不能保证你的单片机的ADC标准电压固定的话你和我说2.5V稳定不变对于ADC采集没有任何意义.你要保证的是VCC稳定或者说单片机的ADC-VREF电压稳定。
第二就是电压跟随电路，你可以搜下这个电路的功能，他就是隔离前后级电路的，防止前后级电路相互影响的，你这里要么在单片机IO前面加个电阻，要么加个电压跟随电路。你这个电路是粗略的ADC测算，你就不要想精度了，你都直接怼单片机IO口，IO口又不是百分百防御墙，他也要接地将电流弄走的，肯定会有压降的，要么你自己弄个补偿压降的算法，要么隔离。

黄youhui 发表于 2024-9-12 09:25
电容应该并在NTC两端

你看看我描述的，我没用ntc

不正常，你要减小采样次数，让电容有时间充电

qq475878026 发表于 2024-9-12 09:08
ADC3的引脚是不是设置下拉了？

无上下拉

把这个电容下掉，两颗电阻换成一样的1k，然后再试一下，

电容应该并在NTC两端

ADC3的引脚是不是设置下拉了？

1、R10和NTC的取值相等；
2、R10和NTC位置互换，R10和C8构成低通滤波器；
3、C8的容值太大，通常为104，它有两个作用，一是构成低通滤波的功能，二是抑制温度使NTC阻值快速变化；
4、MCU和NTC的供电电压均为5V；
5、NTC测温通常采用两路，一路采集电路板温度，另一路采集被测物体的温度，消除电路板温升引起的温差；
6、C8接一个电压跟随器；
7、软件增加滤波功能，如采集十次，去掉两个最值，再取平均值；
8、5V电源最好由LDO提供。