本帖最后由 codenew 于 2014-10-6 22:42 编辑
下面程序是我从别的地方搞来的,最后发现很多错误。为了避免误人子弟,特地作了一下分析,开头部分for分析是我写的,程序中红色的部分我是加上去的。
在软件仿真环境下,把晶振改成12.0Mhz
,C51
标签代码优化设为0
,见图附件,测得for
语句的延时为:
for(time=0;time<1;time++); //15us
for(time=0;time<2;time++); //23us
for(time=0;time<3;time++); //31us
for(time=0;time<4;time++); //39us
for(time=0;time<5;time++); //47us
for(time=0;time<6;time++); //55us
for(time=0;time<7;time++); //63us
for(time=0;time<8;time++); //71us
for(time=0;time<9;time++); //79us
for(time=0;time<10;time++); //87us
for(time=0;time<20;time++); //167us
for(time=0;time<60ime++); //487us
for(time=0;time<70ime++); //567us
for(time=0;time<80ime++); //647us
for(time=0;time<100;time++); //807us
for(time=0;time<200;time++); //1607us
由上可看出,成等差数列,公差d=8。一般地,如果n>m,an=am+8*(n-m)。
/*****************************************************
函数功能:将DS18B20传感器初始化,读取应答信号
出口参数:flag
***************************************************/
bit Init_DS18B20(void)
{
bitflag; //储存DS18B20是否存在的标志,flag=0,表示存在;flag=1,表示不存在
DQ= 1; //先将数据线拉高
for(time=0;time<2;time++);//略微延时约6微秒。实际是延时23us。
DQ= 0; //再将数据线从高拉低,要求保持480~960us
for(time=0;time<200;time++);//略微延时约600微秒,以向DS18B20发出一持续480~960us的低电平复位脉冲。实际是延时1607us,重大错误,都超过960us了。
DQ= 1; //释放数据线(将数据线拉高)
for(time=0;time<10;time++);//延时约30us(释放总线后需等待15~60us让DS18B20输出存在脉冲)。实际是延时87us,延时多过60us,反而能保证读到存在脉冲,这点误撞了。
flag=DQ; //让单片机检测是否输出了存在脉冲(DQ=0表示存在)
for(time=0;time<200;time++); //延时足够长时间,等待存在脉冲输出完毕
return(flag); //返回检测成功标志
}
/*****************************************************
函数功能:从DS18B20读取一个字节数据
出口参数:dat
***************************************************/
unsigned char ReadOneChar(void)
{
unsignedchar i=0;
unsignedchar dat; //储存读出的一个字节数据
for(i=0;i<8;i++)
{
DQ=1; //先将数据线拉高
_nop_(); //等待一个机器周期
DQ= 0; //单片机从DS18B20读书据时,将数据线从高拉低即启动读时序
dat>>=1;
_nop_(); //等待一个机器周期
DQ= 1; //将数据线"人为"拉高,为单片机检测DS18B20的输出电平作准备
for(time=0;time<2;time++);//延时约6us,使主机在15us内采样。实际是延时23us,超过了15us。
if(DQ==1)
dat|=0x80; //如果读到的数据是1,则将1存入dat
else
dat|=0x00;/如果读到的数据是0,则将0存入dat,将单片机检测到的电平信号DQ、r
for(time=0;time<8;time++);//延时3us,两个读时序之间必须有大于1us的恢复期。实际是延时71us。思路根本不对,读时隙至少延时60us,这里又误撞对了,把至少延时和读时隙间隔至少1us都包含进了。
}
return(dat); //返回读出的十进制数据
}
/*****************************************************
函数功能:向DS18B20写入一个字节数据
入口参数:dat
***************************************************/
WriteOneChar(unsigned char dat)
{
unsignedchar i=0;
for(i=0; i<8; i++)
{
DQ=1; // 先将数据线拉高
_nop_(); //等待一个机器周期
DQ=0; //将数据线从高拉低时即启动写时序
DQ=dat&0x01; //利用与运算取出要写的某位二进制数据,并将其送到数据线上等待DS18B20采样
for(time=0;time<10;time++);//延时约30us,DS18B20在拉低后的约15~60us期间从数据线上采样。实际是延时87us。
DQ=1; //释放数据线
for(time=0;time<1;time++);//延时3us,两个写时序间至少需要1us的恢复期 。实际是延时15us。
dat>>=1; //将dat中的各二进制位数据右移1位
}
for(time=0;time<4;time++);//稍作延时,给硬件一点反应时间。延时39us。
}
/*****************************************************
函数功能:做好读温度的准备
***************************************************/
void ReadyReadTemp(void)
{
Init_DS18B20(); //将DS18B20初始化
WriteOneChar(0xCC); // 跳过读序号列号的操作
WriteOneChar(0x44); // 启动温度转换
for(time=0;time<100;time++);//温度转换需要一点时间。延时807us。
Init_DS18B20(); //将DS18B20初始化
WriteOneChar(0xCC);//跳过读序号列号的操作
WriteOneChar(0xBE);//读取温度寄存器,前两个分别是温度的低位和高位
}
/*****************************************************
函数功能:延时若干毫秒
入口参数:n
***************************************************/
voiddelaynms(unsigned char n)
{
unsigned char i;
for(i=0;i<n;i++)
delay1ms();
}
照理说void delaynms(unsigned char n),参数n的取值范围是0~255,因是是无符号数。但在主函数中却调用delaynms(1000),明显错误,超出取值范围。