关于一个硬件测试功能的实现问题 -

标题: 关于一个硬件测试功能的实现问题 [打印本页]

作者: qq1182560902 时间: 2019-11-15 15:35
标题: 关于一个硬件测试功能的实现问题
现在要实现一个硬件的测试功能，先初始化控制它的模式，然后进行判断；然后更换它的模式进行第二次判断，再更换它的模式然后判断；每次判断的东西不一样。
现在苦恼的是第一次判断的模式设置在主函数中，其他模式设置到哪里？因为每次判断都要延时很苦恼，太耗费时间了。延时主要是硬件原因，但是有些判断几次确多延迟了几次。不知道怎么改节约时间。

void main(void)
{

      uint16 step=0,i=0;


Uart1Init();


      Timer0_Init();
      Timer1_Init();                //复位

      ES = 1;
EA = 1;

            step0_mode();//选择模式子函数
            DelayMs(500);//延时

while(1)
{
{
判断；
}
if(stp==1)
step1_mode();
DelayMs(500);//延时
{判断；
}
if(stp==2)
step2_mode();
DelayMs(500);//延时
{
判断；
}
if(stp==3)
step3_mode();
DelayMs(500);//延时
{
判断；
}

作者: yzwzfyz 时间: 2019-11-15 15:35
1、在做本次测试期，就做好下一次测试的所有准备工作！
2、不要用DELAY做延时，以节省CPU的时间，并将这段时间利用起来，用于做下次测试的准备。

作者: qq1182560902 时间: 2020-4-21 07:59
已经解决了，多谢大家

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