关于一个硬件测试功能的实现问题

现在要实现一个硬件的测试功能，先初始化控制它的模式，然后进行判断；然后更换它的模式进行第二次判断，再更换它的模式然后判断；每次判断的东西不一样。
现在苦恼的是第一次判断的模式设置在主函数中，其他模式设置到哪里？因为每次判断都要延时很苦恼，太耗费时间了。延时主要是硬件原因，但是有些判断几次确多延迟了几次。不知道怎么改节约时间。


void main(void)
{


        uint16 step=0,i=0;
        



   Uart1Init();
        

        Timer0_Init();
        Timer1_Init();                 //复位
        
        ES = 1;
    EA = 1;
        
                step0_mode();//选择模式子函数
                DelayMs(500);//延时

while(1)
{
{
判断；
}
if(stp==1)
step1_mode();
DelayMs(500);//延时
{判断；
}
if(stp==2)
step2_mode();
DelayMs(500);//延时
{
判断；
}
if(stp==3)
step3_mode();
DelayMs(500);//延时
{
判断；
}

已经解决了，多谢大家

1、在做本次测试期，就做好下一次测试的所有准备工作！
2、不要用DELAY做延时，以节省CPU的时间，并将这段时间利用起来，用于做下次测试的准备。