内置晶振、充电电池、 I I C 串行接口的高精度实时时钟 IC - SD2405AP Ver1. 2
1. 概述概述概述概述
SD2405AP 是一种内置晶振、充电电池、具有标准 I I C 接口的实时时钟芯片 ,CPU 可使用该接口通过 5 位地 址
寻址来读写片内 32 字节寄存器的数据 ( 包括时间寄存器、 报警 寄存器、控制寄存器、通用 SRAM 寄存器 ) 。
SD2405AP 内置晶振 , 该芯片可保证时钟精度为 ± 5 ppm( 在 25 ℃± 1 ℃ 下 ) ，即年误差小于 2 .5 分钟。
SD2405AP 内置充电电池及充电电路 , 在电池满充的情况下可保证内部时钟走时超过半年时间，累计电池电 量
超过 550mAH , 电池使用寿命为 5 ～ 8 年时间；内部具备电源切换电路，当芯片检测到主电源 V DD 掉到充电电池 电 压
以下 , 芯片会 自动转为由充电电池供电。
SD2405AP 内置单路定时 / 报警中断输出 , 报警中断时间最长可设至 100 年。
SD2405AP 内置时钟精度数字调整功能，可以在很宽的范围内校正时钟的偏差 (-189ppm ～ + 189ppm, 分辨力 为
3 . 05ppm) ， 并 通过外置的温度传感器可设定适应温度变化的调整值，实现在宽温范围内高精度的计时功能。
SD2405AP引脚图：
管脚功能定义：
寄存器介绍：
三 有关 SD2400的一些问题回答
(1) 时钟精度 :
SD2400 的精度指标为常温 25 度下 ± 5ppm, 即年误差少于 2.5 秒 .
出厂之前对每一只 SD2400 都用超高精度的仪器和严格的程序做了校准 , 所以能保证精度 . 有人说他拿到
SD2400 的精度好像不准 , 一般问题出在参考时钟上 , 通常可用电信 12117 台作基准来验证 , 但如用电脑那就差
远了 , 因为电脑的时钟精度一般都不高 , 通常大于 30ppm.
(2) 温度对精度的影响 :
对目前的没有温度补偿的 SD2400 系列时钟 : 在低温 (-40) 或高温 (80) 时 , 因为晶振的温度特性的原故 , 时钟误差
一般大于 -100ppm. 即年误差超过 52.56 分钟
如果要更高精度 , 可选内置温度传感的 SD2404 时钟或在 SD2400 系列外加温度传感器来补偿。
(3) 内部电池电压的测量 :
利用 SD2400 测试脚 -TEST 脚可以测量内部电池的电压 , 方法是 :
a. 在 VDD 脚没加电时 , 拿万用表测得 TEST 脚电压 , 记为 V1
b. 给 SD2400 的 VDD 脚外电源 ( 通常 VDD 为 5.0v), 拿万用表测得 TEST 脚电压 , 记为 V2
则内部电池电压 VBAT=VDD*V 1/V2
注意 : 以上测 TEST 脚电压须用同一个万用表 , 因为不同的万用表内阻可能有差别 ,
而内部电池到 TEST 脚之间的电阻是 10M 欧姆 , 所以如用不同内阻的万用表会从 TEST 脚测得不同的电压 .
通常内部电池电压 >1.2v 时都可以保证时钟内部的走时 .
(4) 充电电池的充电方式 :
对 SD2400 系列中内置充电电池的产品如 SD2401
a. 在出产前已经充满电 , 充电电池电压为 3. 0 V 左右
b. 在用户板上电的情况下 ,SD2401 就一直在充电 放电 充电的循环 , 其中放电主要是充电电池的自放电 , 通常一年时间电池的自放电电量有 2~5%, 当电池电压降到 3.0V 时就又开始充电即通常所说的 浮充 . 注 : 这些过程 都是自动完成的 , 您不用管它 .
c. 充电次数 : 在整过电池寿命里 , 这一过程 , 如完全放完电再充满电 , 最多 100 次 ;
如果每次放电至电量的 10% 再充满电 , 最多 1000 次 ;
如果每次放电至电量的 1% 再充满电 , 最多 10000 次 ;.
d. 在用户板下电的情况下 , 充电电池可维持时钟工作近半年时间 , 也就是说 , 您半年时间不上电 , 等再次上电时时钟仍然在工作 .
e. 如 d 的情况 , 等电充满的时间通常要三天 (72 小时 ) .
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