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MCU+PCAP01电容测量浮动很大而且位置平移也会产生较大变动?

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楼主
用STM32F1控制PCAP01测量电容,程序采用SPI通讯,读取PCAP01的寄存器,电容采集,采用的是漂移模式。使用后发现,电容采集过程中,波动较大,而且在采集过程中不能移动电容器位置。我在测量电容后,在相同环境下,稍稍平移下电容位置,再测,两次测量结果就相差很大,这是为什么啊?

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PCAP01 原理图

PCAP01 原理图
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沙发
ID:123289 发表于 2023-5-9 09:16 | 只看该作者
这是电子功底不足。
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板凳
ID:391219 发表于 2023-5-9 17:46 | 只看该作者
yzwzfyz 发表于 2023-5-9 09:16
这是电子功底不足。

确实是,没啥经验。你能提供个思路吗?我这个电容,只要移动地方,哪怕是平移波动都很大,平移完成后,还没法恢复成没动的数值。你有啥想法吗?
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地板
ID:123289 发表于 2023-5-10 08:06 | 只看该作者
软件、硬件、布线、环境都有关系,这里不是方便参说清楚的地方。
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5#
ID:391219 发表于 2023-5-11 19:25 | 只看该作者
yzwzfyz 发表于 2023-5-10 08:06
软件、硬件、布线、环境都有关系,这里不是方便参说清楚的地方。

好的,谢谢您,我仔细研究研究
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