单片机测电阻阻值程序出现的问题

ID:1045846 · 发表于 2024-6-2 12:42

本程序使用STC8H8K64U单片机
测量0-100K的阻值时，读数没什么问题，但是测100K以上阻值时，显示结果不正常。
把电路中51K的阻值换成300K阻值，测试结果还是不行。

出现这种情况是那方面的问题呢。
以下是与测试阻值有关的程序。

#include "STC8H.H"
#include "intrins.h"
/*宏定义*/
#define uint unsigned int
#define uchar unsigned char
#define ulong unsigned long
#define TOL 900 //公差
#define VCC 5000 //电压常量(毫伏)
#define VCR 5100 //阻值常量
#define LIM 4000 //开路电压阈值常量(毫伏)
/*端口定义*/
sbit ADKA=P1^0; //测阻1
sbit ADKB=P1^1; //测阻2
sbit ADCA=P1^4; //ADC1
sbit ADCB=P1^5; //ADC2
sbit ADCO=P1^6; //ADC4
sbit LEDG=P5^0; //绿灯
sbit LEDR=P5^1; //红灯
sbit HC595_SER = P0^0; //数据
sbit HC595_SRCLK = P0^1; //移位时钟
sbit HC595_RCLK = P0^2; //锁存
uchar code table[]={ //共阴数码管段码标准字库
// 0 1 2 3 4 5 6 7 8 9 A B C D E F
0x3F,0x06,0x5B,0x4F,0x66,0x6D,0x7D,0x07,0x7F,0x6F,0x77,0x7C,0x39,0x5E,0x79,0x71,
// black - H J K L N o P U t G Q r M y
0x00,0x40,0x76,0x1E,0x70,0x38,0x37,0x5C,0x73,0x3E,0x78,0x3d,0x67,0x50,0x37,0x6e,
// 0. 1. 2. 3. 4. 5. 6. 7. 8. 9. -1
0xBF,0x86,0xDB,0xCF,0xE6,0xED,0xFD,0x87,0xFF,0xEF,0x46};
uchar data dis_buf[4]={~0x3F,~0x3F,~0x3F,~0x3F};//显示缓存
/*全局变量*/
uint VinA; //测电压A
uint VinB; //测电压B
uint RinD; //测电阻
uint VADC; //ADC转换结果
uint vector; //向量
bit flag=0; //标志
bit flag1=0; //
bit allow; //允许
uint count; //计数
uint count1;
uint count2;
uint VR;
/*本地子函数*/
void Delay500us(void); //延时函数
void Delay_ms(uint t); //延时函数
void Timer0_Init(void); //初始化定时器0
void ADC_Init(void); //初始化ADC
uint ADC_Read(uchar ch); //读取ADC结果
uint ADC_R(uchar dat); //换算ADC电阻
uint ADC_V(uchar dat); //换算ADC电压
uint exist_VR(uchar dat); //测量VR存在
void symmetry_VR(void); //测量VR电阻程序
void Send_595(uchar dat); //595发送一个字节
void DisplayScan(); //595多字节驱动数码管静态显示
void Renewal(); //数码管缓存更新
//主函数
void main()
{
uchar RH,RL;
//初始化端口模式配置
P0M0 = 0x00;P0M1 = 0x00; //全部为准双向口
P1M0 = 0x00;P1M1 = 0xfb; //除P1.2NC外全部高阻
P2M0 = 0x00;P2M1 = 0x00; //全部为准双向口
P3M0 = 0x00;P3M1 = 0x00; //全部为准双向口
P4M0 = 0x00;P4M1 = 0x00; //全部为准双向口
P5M0 = 0x00;P5M1 = 0x00; //全部为准双向口
P6M0 = 0x00;P6M1 = 0x00; //全部为准双向口
P7M0 = 0x00;P7M1 = 0x00; //全部为准双向口
Delay_ms(100);
ADC_Init(); //初始化ADC
while(1)
{
symmetry_VR(); //测量VR电阻
dis_buf[0]=~(table[20]); //卜表示K
dis_buf[1]=~(table[RinD/10%10]);
dis_buf[2]=~(table[RinD/100%10]|0x80);//加小数点
dis_buf[3]=~(table[RinD/1000%10]);
DisplayScan(); //显示阻值
if(RinD<(1250-225) || RinD>(1250+225))//12.5K+/-18% 阻值超过误差或没有装VR
{
LEDG=1; //绿灯熄
//LEDR=0; //红灯亮有缺陷
flag=0; //继续
}
else //阻值正常
{
LEDG=0; //绿灯亮正常
LEDR=1; //红灯熄
flag=1;
}
}
}
//延时函数
void Delay500us(void) //500us@11.0592MHz
{
unsigned char data i, j;
_nop_();
_nop_();
i = 8;
j = 43;
do
{
while (--j);
} while (--i);
}
//延时函数
void Delay_ms(unsigned int t) //@11.0592MHz
{
unsigned char data i, j;
while (t--)
{
i = 15;
j = 90;
do
{
while (--j);
} while (--i);
}
}
//初始化ADC
void ADC_Init(void)
{
P_SW2 |= 0x80; //开扩展寄存器
ADCTIM = 0x3f; //设置ADC内部时序
P_SW2 &= 0x7f; //关扩展寄存器
ADCCFG = 0x2f; //设置ADC时钟为系统时钟/2/16，12位结果右对齐
ADC_CONTR = 0x80; //使能ADC模块
}
//读取ADC结果
uint ADC_Read(uchar ch)
{
ADC_CONTR = 0xc0|ch; //启动AD转换
_nop_(); //小延时
_nop_();
while (!(ADC_CONTR & 0x20)); //查询ADC完成标志
ADC_CONTR &= ~0x20; //清完成标志
return ADC_RES << 8 | ADC_RESL;//返回12位ADC结果
}
//ADC电阻换算公式：被测阻值=((固定分压电阻值*AD转换值)/(4096-AD转换值)
uint ADC_R(uchar dat)
{
uint teme;
ADC_Read(dat); //丢掉两次检测
ADC_Read(dat);
VADC=ADC_Read(dat); //读取第x通道ADC结果
teme=(VCR*(ulong)VADC)/(4096-VADC)-30;//计算阻值(减30为IO口限流电阻)
return teme;
}

复制代码

ID:879809 · 发表于 2024-6-5 22:56

数据溢出了呗，把数据带进去人工计算一下就能知道哪里超范围了。

ID:1045846 · 发表于 2024-6-8 21:39

rundstedt 发表于 2024-6-5 22:56
数据溢出了呗，把数据带进去人工计算一下就能知道哪里超范围了。

感谢回复，换了一种电路和计算方式解决了。

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