stm32单片机过采样增加精度的问题

ID:285416 · 发表于 2024-8-17 11:26

想做一个数字万用表32 的精度0.8mv，后来改用1.8vref 不过是0.4，没有提高小数点位，无任何意义后来研究了一下过采样，了，可以提高到14位，这样就能达到0.01 可以提高一个小数点位，问，这样的方案是否可行？

ID:344848 · 发表于 2024-8-17 17:12

本帖最后由 donglw 于 2024-8-20 21:55 编辑

增加精度，取决两个因素，一是基准电压的精度，二是ADC的位数。

ID:628113 · 发表于 2024-8-17 18:23

stm32 虽然理论采样 12位，但是实际上有效精度也就 10位。所以直接测量远达不到 0.8mv 精度。
要达到 0.8mv 需要硬件预放。

ID:309610 · 发表于 2024-8-18 09:57

提高基准电压精度，多次采样、3-9次采样取中位值滤波，再取16次中值累加形成伪16位ADC。精度会有效提高。

ID:1079566 · 发表于 2024-8-18 10:15

过采样可以增加STM32 ADC的有效位数如12位增加到14位, 但没有提高精度, 不会提高INL, 也就是线性精度还是10bit.
其实普通使用10bit也够用了(约0.1%), 想提高性能,应该是把你的测量值,经过放大或衰减到总量程的40~80%范围内.

ID:1034262 · 发表于 2024-8-20 15:50

STM32的12位ADC有12位精度？能到10位就不错了。
过采样有效的前提是：逼近式ADC线性好、比较器增益高、输入信号带有幅度为1LSB左右三角波噪声或白噪声。这些条件不满足，过采样都是白搭，就STM32的ADC性能，没啥意义。Sigma Delta ADC用一个高性能比较器就可能得到24位的分辨率，高达20位或以上的精度。

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