低成本的IO电压检测方案

ID:60076 · 发表于 2014-5-6 15:15

先声明一下：本检测方法精度很低，只能用于要求不高的场合。

电路只要一个电阻和一个电容，和占用一个IO口，电路如下：

方法：
1、先将IO口设为输出并置成低电平，对电容C放电；
2、再将IO口设为输入，同时启动MCU内部的计数器；
3、电池电压Vbat将通过电阻R对C充电，同时MCU检测IO口的状态；
4、当检测到IO口为高时，停止计数；
5、将IO口重新设为输出0；
6、此时计数值与Vbat的值相对应。

Vbat的计算方法：可以通过查表加插值方法计算出电压值，表的制作方法是：用一组已知的电压测出对应的计数值，写入到程序里。

如果要提高检测的精度，可以单独对每个产品独立调校，将得到的表格数据写入到EEPROM内。

本方案可以用于无AD的MCU，又需要电池电压检测的低成本的应用中。

ID:48413 · 发表于 2014-7-15 21:57

ID:108575 · 发表于 2018-6-15 10:07

好文章,可以学到很多东西

ID:448822 · 发表于 2019-2-9 16:53

好文章,可以学到很多东西

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