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光照强度测试仪设计资料 GY-30 BHT1750FVI传感器 含原理图 源码

查看数: 9031 | 评论数: 2 | 收藏 0
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发布时间: 2017-4-1 22:29

正文摘要:

这是一种光照强度测试器的设计资料,运用 GY-30和BHT1750FVI传感器芯片进行采集并采用51单片机进行处理。 原理图:

回复

ID:510068 发表于 2019-4-11 22:28
好定西,谢谢楼主
ID:135835 发表于 2017-4-3 12:14
很实用的资料,感谢楼主分享。

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