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传感器标定:比如用标准的压力机给压力传感器施加不同的压力,会得到多个传感器的ADC值和标准压力的映射关系;同样的用标准的多个不同强度的光源照射光敏传感器可以得到光强和光敏传感器的映射关系。当MCU检测到压力传感器或者光敏传感器的ADC值就可以反推出当前的压力值或者光强。通过大量数据的曲线你和归一化处理、把这个函数写入单片机eerom或者falsh,这就是即所谓的标定原理。标定只能解决传感器准度的问题,不能解决批量一致性不好,多次测试重复性不好的问题。那如何做才能解决传感器一致性和重复性不好的问题呢?
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