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芯片采用AT89C2051，温度检测采用DS18B20，显示3位共阴数码管，电路非常简单。
原理仿真图：实际运用中请将P1口加上1K上拉电阻。
采用基本和数码管大小的一块实验洞洞板来焊接，电源采用常用的5VminiUSB供电（数据线好找些，可以直接USB，比较方便），晶振采用了坏U盘中的12MHZ的小晶振嵌入到集成插座的中间空隙以减小体积。为了减小数码管和其他电子元件通电后发热对DS18B20温检产生检测误差，将DS18B20的3只脚分别焊接到一个立体声插头上，然后再通过立体声插座再传递到AT89C2051的P3.7端口。数码管采用插接件，方便修改和烧录单片机程序。
只拍照的正面，背面就是乱云飞渡人从容啦
装好通电后效果，测试中还是感觉到电子元件温升的差异
源程序如下：
#include<reg52.h>
#include <intrins.h>
#define uchar unsigned char
#define uint unsigned int
sbit DATA = P3^7; //DS18B20接入口
uchar code table[]={0x3f,0x06,0x5b,0x4f,0x66,0x6d,0x7d,0x07,0x7f,0x6f,0x77,0x7c,0x39,0x5e,0x79,0x71};
char bai,shi,ge; //定义变量
/*延时子函数*/
void delay(uint num)
{
while(num--) ;
}
/*************DS18b20温度传感器函数*********************/
Init_DS18B20(void) //传感器初始化
{
uchar x=0;
DATA = 1; //DQ复位
delay(10); //稍做延时
DATA = 0; //单片机将DQ拉低
delay(80); //精确延时 大于 480us //450
DATA = 1; //拉高总线
delay(20);
x=DATA; //稍做延时后 如果x=0则初始化成功 x=1则初始化失败
delay(30);
}
//读一个字节
ReadOneChar(void)
{
uchar i=0;
uchar dat = 0;
for (i=8;i>0;i--)
{
DATA = 0; // 给脉冲信号
dat>>=1;
DATA = 1; // 给脉冲信号
if(DATA)
dat|=0x80;
delay(8);
}
return(dat);
}
//写一个字节
WriteOneChar(unsigned char dat)
{
uchar i=0;
for (i=8; i>0; i--)
{
DATA = 0;
DATA = dat&0x01;
delay(10);
DATA = 1;
dat>>=1;
}
delay(8);
}
//读取温度
int ReadTemperature(void)
{
uchar a=0;
uchar b=0;
int t=0;
float tt=0;
Init_DS18B20();
WriteOneChar(0xCC); // 跳过读序号列号的操作
WriteOneChar(0x44); // 启动温度转换
Init_DS18B20();
WriteOneChar(0xCC); //跳过读序号列号的操作
WriteOneChar(0xBE); //读取温度寄存器等（共可读9个寄存器） 前两个就是温度
a=ReadOneChar();//低位
b=ReadOneChar();//高位
t=b;
t<<=8;
t=t|a;
tt=t*0.0625;
t= tt*10+0.5;
return(t);
}
/*显示子函数*/
void display(int bai,int shi,int ge)
{
P3=0XFB; //显示小数点
P1=0X80; //显示小数点
delay(50);//显示小数点
P3=0xf7;
P1=table[bai];//显示千位
delay(50);//一小段延时动态显示
P3=0xfb;
P1=table[shi];//显示百位
delay(50);
P3=0xfd;
P1=table[ge];//显示十位
delay(50);
}
void main()
{
int temp;
while(1)
{
temp=ReadTemperature();//读温度
bai=temp%1000/100;//显示百位
shi=temp%100/10;//显示十位
ge=temp%10;//显示个位
display(bai,shi,ge);//显示函数
}
}
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用STC芯片多好，试试
谁做过的好心帮忙提供下hex文件啊
