AM335x评估板快速测试(2)

ID:336245 · 发表于 2020-9-18 14:11

CAN总线测试评估板引出了一个CAN接口。使用USB转CAN模块连接评估板硬件CAN0接口和PC机USB接口，如下图所示。按照调试工具安装文档安装CAN接口调试工具ECAN Tools。

图 28

进入评估板文件系统，执行如下命令配置CAN0总线比特率为1MHz，并启动CAN总线。
Target# canconfig can0 bitrate 1000000
Target# canconfig can0 start

图 29

执行如下命令，接收PC端发送的数据。
Target# candump can0

图 30

在PC端打开ECANTools软件，选择设备类型，然后点击“打开设备”。

图 31

等待软件检测到设备后，点击“确定”进入发送界面，如下图所示。

图 32

在如下数据发送界面中，点击“发送”开始发送数据。

图 33

依次向接收端发送两组数据，在ECAN Tools及串口调试终端可看到数据，如下图所示。

图 34

图 35

FRAM读写测试本小节对评估板FRAM进行读写测试。
执行如下命令，将字符串数据写到FRAM。
Target#echo "www.tronlong.com" > /sys/devices/platform/ocp/44e0b000.i2c/i2c-0/0-0050/eeprom
执行如下命令，读取写入到FRAM的数据。
Target#head -c 16 /sys/devices/platform/ocp/44e0b000.i2c/i2c-0/0-0050/eeprom

图 36

DDR读写测试Linux系统启动时，在U-Boot阶段完成DDR的初始化，并打印DDR实际容量，如下图所示。

图 37

DDR读写速度受实际情况影响，测试速率以具体情况为准，以下测试数据仅供参考。

DDR读速度测试

进入评估板系统，执行如下命令对DDR读速度测试。
Target#bw_mem 50M rd

图 38

测试从DDR中读取50MByte数据，可看到本次测试的读速度约为：262.26MB/s。

DDR写速度测试

进入评估板系统，执行如下命令对DDR写速度测试。
Target#bw_mem 50M wr

图 39

测试写入50MByte数据到DDR中，可看到本次测试的写速度约为：1365.52MB/s。

DDR拷贝速度测试

进入评估板系统，执行如下命令对DDR拷贝速度测试。
Target#bw_mem 50M cp

图 40

测试拷贝50MByte数据到DDR中，可看到本次测试的拷贝速度约为：185.06MB/s。

SD卡读写测试
本小节使用评估板配套的Linux系统启动卡来测试SD卡的读写速度。不同的SD卡以及不同大小的测试文件，对SD卡的测试结果会造成一定差异。评估板启动后，Linux系统启动卡的BOOT分区将会挂载在文件系统”/run/media/mmcblk0p1”目录下。
Target#ls /run/media/mmcblk0p1

图 41

SD卡写速度测试

进入评估板系统，执行以下命令测试SD写速度。
Target#time dd if=/dev/zero of=/home/root/test bs=1024K count=200
time命令有计时作用，dd用于复制，从if(input file)文件读出，写到of(output file)指定的文件，bs是每次写块的大小，count是读写块的数量。
“if=/dev/zero”不产生IO，即不断输出数据，可用来测试纯写速度。

图 42

此处一共写200MByte测试数据到SD卡的test文件，可看到本次测试的SD卡写速度约为：200MB/22.57s=8.86MB/s。

SD卡读速度测试

测完写速度之后，重启评估板，并执行以下命令测试SD卡读速度。
Target#time dd if=/home/root/test of=/dev/null bs=1024K
“of=/dev/null”不产生IO，即不断接收数据，可用来测试纯读速度。

图 43

此处从test文件中一共读出200MByte的数据，可看到本次测试的SD卡读速度约为：200MB/9.78s=20.45MB/s。
eMMC读写测试需对eMMC设备进行分区后方可对其进行读写测试。评估板出厂时，默认已完成eMMC设备分区工作，执行如下命令可查看eMMC容量以及分区信息。
Target#dmesg | grep mmcblk1

图 44

其中boot分区在评估板文件系统挂载路径为"/run/media/mmcblk1p1"，rootfs分区在评估板文件系统挂载路径为"/run/media/mmcblk1p2"，执行如下命令可查看挂载情况。
Target#df

图 45

eMMC写速度测试

进入评估板系统，执行以下命令对eMMC设备进行写速度测试。
Target#time dd if=/dev/zero of=/run/media/mmcblk1p2/test bs=1024K count=200 conv=fsync

图 46

此处一共写200MByte测试数据到eMMC设备rootfs分区下的test文件，可看到本次测试的eMMC设备写速度约为：200MB/21.91s=9.13MB/s。

eMMC读速度测试

重启评估板，进入评估板系统，执行以下命令对eMMC设备进行读速度测试。
Target#time dd if=/run/media/mmcblk1p2/test of=/dev/null bs=1024K

此处从test文件中一共读出200MByte数据，可看到本次测试的eMMC设备读速度约为：200MB/9.51s=21.03MB/s。
SPI FLASH读写测试本小节对SPI FLASH的MTD4分区进行读写速度测试。MTD4是SPI FLASH的内核备份分区，分区大小为6.6Mbyte，读写测试会将该分区内容擦除，请做好数据备份。
执行如下命令查询SPI FLASH分区，确认MTD4分区大小（读写请勿超出分区大小），将该分区内容擦除。
Target#cat /proc/mtd
Target# flash_erase /dev/mtd4 0 0

图 47

SPI FLASH写速度测试

进入评估板系统，执行如下命令对SPI FLASH进行写速度测试。
Target#time dd if=/dev/zero of=/dev/mtd4 bs=512k count=2

图 48

测试写入1MByte数据到SPI FLASH的MTD4分区下，可看到本次测试的SPI FLASH写速度约为：1MB/2.27s=0.44MB/s。

SPI FLASH读速度测试

重启评估板，进入评估板系统，执行如下命令对SPI FLASH进行读速度测试。
Target#time dd if=/dev/mtd4 of=/dev/null bs=512k count=2

图 49

测试从SPI FLASH的MTD4分区读取1MByte数据，可看到本次测试的SPI FLASH读速度约为：1MB/0.56s=1.79MB/s。
温度传感器测试核心板板载一个温度传感器，使用I2C0总线，地址为0x49。进入评估板文件系统，输入如下命令查看传感器温度值。
Target# cat /sys/devices/platform/ocp/44e0b000.i2c/i2c-0/0-0049/hwmon/hwmon1/temp1_input

图 50

温度值为（测试值/1000），单位为摄氏度。本次测试的温度值为：36812/1000=36.812摄氏度。

调试串口切换测试