数字低频特性测试仪设计论文下载

ID:189714 · 发表于 2017-4-20 12:59

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摘要与关键词... - 2 -

1 设计任务与要求... - 3 -

1.1 设计任务... - 3 -

1.2 技术指标... - 3 -

2 方案论证与比较... - 3 -

3 扫频信号源及外围硬件电路... - 5 -

3.1 DDS信号源设计... - 5 -

3.2 阻容双T网络相关参数的计算... - 8 -

3.3 峰值检波电路... - 9 -

3.4 相位差测量... - 10 -

4 MCU、按键显示、通信模块... - 11 -

4.1 LPC2132简介... - 11 -

4.2 按键显示电路... - 12 -

4.3 SPI通信模块... - 12 -

5 软件流程... - 13 -

6 系统调试与测量结果... - 14 -

6.1 测试仪器... - 14 -

6.2 DDS扫频信号源... - 15 -

6.3 幅频特性测量... - 15 -

6.4 相频特性测量... - 17 -

6.5 总结... - 19 -

7 参考资料... - 19 -

摘要：

频率特性测试仪也称扫频仪，用于测量被测网络的幅频特性和相频特性，是电子领域中常用的设备之一。本文详细叙述了由ARM、FPGA以及外围电路制作频率特性仪的所需的软件和硬件。幅值的测量由ARM控制FPGA产生DDS信号扫频信号经过测试网络（阻容双T网络）、峰值检波、ADC将幅值存入Flash；相位差的测量是将测试网络输入和输出两路信号分别送比较器整形为方波，测量两路方波异或后的脉冲宽度来实现。通过把Flash中存储的相应频率的幅值和相位读出可在数码管上显示，或经过DAC可在示波器上显示幅频特性和相频特性。经过实际制作和调试，由LPC2132控制Cyclone II产生的扫频信号实际范围为5～2M Hz、最小步进值5Hz；在100～100k Hz范围内幅值和相位精度基本满足题目要求。

ID:191800 · 发表于 2017-4-20 20:34

太赞了

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